非球面光學(xué)零件憑借在光學(xué)系統(tǒng)中的作用：有效校正系統(tǒng)像差，擴(kuò)大系統(tǒng)視覺角度，減輕系統(tǒng)整體質(zhì)量縮小系統(tǒng)體積等，正被廣泛應(yīng)用于各類型的高精尖科技生產(chǎn)加工領(lǐng)域。非球面面型檢測(cè)技術(shù)不可避免的成為加工工藝的一部分，且相當(dāng)重要，所以如何能夠準(zhǔn)確快速高效地檢測(cè)出非球面零件的面型信息至關(guān)重要。光學(xué)測(cè)量方法眾多且測(cè)量精度可以達(dá)到納米級(jí)別，但是這種光學(xué)測(cè)量又會(huì)可能收到空氣介質(zhì)和灰塵的影響，對(duì)于待測(cè)零件的表面精度要求比較高，設(shè)備成本也很高。一般應(yīng)用在精密拋光階段對(duì)最終成型的零部件進(jìn)行測(cè)量。

接觸式測(cè)量具有更高的適用性，性價(jià)比高，精確度也高，雖然也存在誤差如接觸變形誤差和零件表面劃傷風(fēng)險(xiǎn)，但是在實(shí)際加工過程中，還是接觸型測(cè)量更加有用，可靠，有實(shí)用性，主要應(yīng)用于零件的精磨階段。

針對(duì)測(cè)量過程中觸發(fā)式測(cè)頭預(yù)行程誤差進(jìn)行分析，通過對(duì)測(cè)桿彎曲變形和測(cè)球變形的受力分析，建立預(yù)行程誤差模型，在進(jìn)行深入分析，通過對(duì)接觸力的理論推理，精確計(jì)算出預(yù)行程誤差值，由此可以深入研究預(yù)行程誤差補(bǔ)償方法。

在實(shí)際測(cè)量的過程中，由于測(cè)頭自身機(jī)械響應(yīng)的滯后，接觸到被測(cè)零件表面時(shí)并不會(huì)立即發(fā)出觸發(fā)信號(hào)，所以從測(cè)頭接觸到被測(cè)零件表面到被觸發(fā)這一過程，就是叫做測(cè)頭預(yù)行程誤差。而影響這種誤差的因素又眾多，如測(cè)桿彎曲位移導(dǎo)致誤差，測(cè)球接觸位移誤差等等，所以在做預(yù)行程誤差分析時(shí)，要特別注意的是，為了精確計(jì)算測(cè)頭預(yù)行程誤差，針對(duì)不同誤差原因因素，分別進(jìn)行數(shù)學(xué)建模，對(duì)誤差進(jìn)行定量分析。