選擇測(cè)頭需要考慮什么

　　首先，對(duì)探頭選擇的幾點(diǎn)思考

　　●使用接觸式探頭時(shí)，應(yīng)仔細(xì)選擇非接觸式探頭。

　　●在只測(cè)量尺寸和位置元件的情況下，盡量選擇接觸觸發(fā)探頭。

　　●考慮成本并能滿足案件要求，盡量選擇接觸觸發(fā)探頭。

　　●當(dāng)形狀和輪廓精度要求較高時(shí)，選擇掃描探頭。

　　●掃描測(cè)量：應(yīng)能測(cè)量離散點(diǎn)。

　　●考慮掃描探頭和觸發(fā)探頭的互換性(通常用普通座實(shí)現(xiàn))。

　　●零件易變形，精度不高，需要大量零件測(cè)量數(shù)據(jù)，可考慮使用非接觸式探頭。

　　●考慮軟件、附加硬件(如探頭控制器、電纜)的配置。

　　1.1條。觸發(fā)探頭的場(chǎng)合

　　當(dāng)零件被聚焦在尺寸(如小絲錐)或位置、間距上時(shí)，不要強(qiáng)調(diào)其形狀誤差，如定位銷孔?；蛘吣愦_定你所用的加工設(shè)備有足夠的能力加工出足夠好的零件，并且主要關(guān)注的是尺寸和位置的精度，接觸觸發(fā)測(cè)量是合適的，特別是對(duì)于離散點(diǎn)的測(cè)量。

　　觸發(fā)探頭的尺寸、間距或位置比掃描探頭快，觸發(fā)探頭的體積更小。

　　一般來說，觸發(fā)探頭的使用和維護(hù)成本較低。在機(jī)械工業(yè)中，有大量的幾何測(cè)量，而關(guān)注的只是零件的尺寸和位置。因此，目前市場(chǎng)上的大多數(shù)測(cè)量機(jī)，特別是中等精度的測(cè)量機(jī)，仍采用接觸觸發(fā)式探頭。

　　1.2條。掃描探頭選擇場(chǎng)合

　　適用于有要求的零件和輪廓形狀的測(cè)量：掃描測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)是數(shù)據(jù)速度快，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸和位置，更重要的是可以用多個(gè)點(diǎn)來描述零件的形狀、輪廓，這種特殊的配合和形狀，輪廓對(duì)零件有著嚴(yán)格的要求，零件的形狀直接影響零件(如葉片、橢圓活塞等)的性能;當(dāng)你不確定你所使用的加工設(shè)備是否能生產(chǎn)出足夠好的形狀零件時(shí)，它也適用，而形狀誤差是一個(gè)大問題。

　　高精度測(cè)量：由于掃描探針以恒定速度或恒定力測(cè)量離散點(diǎn)，因此測(cè)量點(diǎn)精度可以更高。

　　同時(shí)，掃描探針可以直接判斷接觸點(diǎn)的法向矢量，對(duì)于需要嚴(yán)格定位和定向測(cè)量的場(chǎng)合，掃描探針在離散點(diǎn)測(cè)量方面也具有優(yōu)勢(shì)。

　　對(duì)于未知表面的數(shù)字化掃描，掃描探針顯示出其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。由于數(shù)字工作模式需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)探頭的點(diǎn)拾取模式顯得太慢。由于是一個(gè)未知的曲面，測(cè)量機(jī)的運(yùn)動(dòng)控制方式也不同，即在“探索模式”下工作。測(cè)量機(jī)根據(jù)運(yùn)動(dòng)軌跡計(jì)算下一步的運(yùn)動(dòng)軌跡和采礦點(diǎn)的密度。

　　1.3條。接觸式和非接觸式探頭的使用

　　非接觸式探頭特點(diǎn)：

　　非接觸式探頭無測(cè)量力，適用于軟物;非接觸式探頭采樣率高，從50倍1秒到16000倍1秒不等。適用于表面形狀復(fù)雜、精度要求不高的未知表面，如汽車、家用電器的木模、泥模等。然而，非接觸式探頭受物體表面輻射特性(顏色、亮度、粗糙度、形狀等)的影響很大，因此在大多數(shù)情況下，顯示誤差大于接觸式探頭，且保持在10微米以上。同時(shí)，非接觸式探頭的價(jià)格普遍較高。

　　選擇非接觸式探頭的原則如下：

　　使用接觸副時(shí)，應(yīng)仔細(xì)選擇非接觸式探頭。在只測(cè)量尺寸和位置元件的情況下，應(yīng)盡可能選擇接觸觸發(fā)探頭?？紤]到成本和滿足要求，應(yīng)盡量選用接觸式觸發(fā)探頭。非接觸式測(cè)頭可以用來測(cè)量易變形、精度低、數(shù)據(jù)量大的零件?？紤]支持軟件、附加硬件(如探頭控制器、電纜)。