觸發(fā)式測(cè)頭和光學(xué)測(cè)頭是數(shù)控機(jī)床產(chǎn)生加工中常見的兩種不同的測(cè)量方法，相較于直接工件表面的觸發(fā)式測(cè)頭，根據(jù)光的物理特性進(jìn)行測(cè)量的光學(xué)測(cè)頭相比，兩者的區(qū)別在哪?哪個(gè)好?

　　觸發(fā)式測(cè)頭和光學(xué)測(cè)頭的區(qū)別：

　　一、采集方式不同

　　觸發(fā)式測(cè)頭是一個(gè)一個(gè)點(diǎn)逐次獲取的方式，通過測(cè)頭不離開零件表面的方式來提高取點(diǎn)速度，屬于單點(diǎn)采集;

　　光學(xué)測(cè)頭在光源維度上分為點(diǎn)光源、線光源和面光源，針對(duì)需要大面積輪廓的空間點(diǎn)坐標(biāo)，線掃描測(cè)頭可通過一條由若干點(diǎn)的激光在工件表面移動(dòng)，即可掃描一片區(qū)域;面掃描測(cè)頭是通過一組編碼的光線柵格，一個(gè)性便可獲取一個(gè)特定大小區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)云。

　　二、是否產(chǎn)生余弦誤差

　　觸發(fā)式測(cè)頭采點(diǎn)時(shí)，測(cè)頭記錄的是測(cè)球中心的空間坐標(biāo)，根據(jù)測(cè)球半徑來進(jìn)行補(bǔ)償，得出實(shí)際點(diǎn)的坐標(biāo);但在測(cè)量特定位置的三維曲線時(shí)，就會(huì)存在按照測(cè)點(diǎn)的法線方向采點(diǎn)，會(huì)存在半徑補(bǔ)償余弦誤差;但若按照測(cè)點(diǎn)的法線方向采點(diǎn)，就會(huì)產(chǎn)生實(shí)際測(cè)點(diǎn)位置出現(xiàn)偏差;

　　而光學(xué)測(cè)頭是直接利用光點(diǎn)的反射信號(hào)來獲取被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償環(huán)節(jié)。

　　三、光線的可觸及性不同

　　測(cè)球的各個(gè)部位都可以通過觸發(fā)式來采點(diǎn)，而光學(xué)傳播是沿直線的，線無法“轉(zhuǎn)彎”，因此，徑深比很小的孔、L性測(cè)針的應(yīng)用場(chǎng)景，觸發(fā)式測(cè)頭相較于光學(xué)式測(cè)頭更為方便。

　　漢測(cè)機(jī)床測(cè)頭適用于高精度零件檢測(cè)、薄壁零件檢測(cè)、模具曲面檢測(cè)、大尺寸零件在線檢測(cè)、大批量在線測(cè)量、渦輪葉片檢測(cè)等。

　　觸發(fā)式測(cè)頭和光學(xué)測(cè)頭哪個(gè)好?從以上三方面的對(duì)比中，光學(xué)測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)似乎更明顯，但并非意味著光學(xué)測(cè)頭可以完全取代觸發(fā)式測(cè)頭。兩者可以說是互補(bǔ)，面對(duì)市面上多類型產(chǎn)品，如何選擇?最終還是取決于測(cè)量需求。