觸發(fā)式測頭和光學(xué)測頭是數(shù)控機(jī)床產(chǎn)生加工中常見的兩種不同的測量方法，相較于直接工件表面的觸發(fā)式測頭，根據(jù)光的物理特性進(jìn)行測量的光學(xué)測頭相比，兩者的區(qū)別在哪?哪個好?

　　觸發(fā)式測頭和光學(xué)測頭的區(qū)別：

　　一、采集方式不同

　　觸發(fā)式測頭是一個一個點逐次獲取的方式，通過測頭不離開零件表面的方式來提高取點速度，屬于單點采集;

　　光學(xué)測頭在光源維度上分為點光源、線光源和面光源，針對需要大面積輪廓的空間點坐標(biāo)，線掃描測頭可通過一條由若干點的激光在工件表面移動，即可掃描一片區(qū)域;面掃描測頭是通過一組編碼的光線柵格，一個性便可獲取一個特定大小區(qū)域內(nèi)的點云。

　　二、是否產(chǎn)生余弦誤差

　　觸發(fā)式測頭采點時，測頭記錄的是測球中心的空間坐標(biāo)，根據(jù)測球半徑來進(jìn)行補(bǔ)償，得出實際點的坐標(biāo);但在測量特定位置的三維曲線時，就會存在按照測點的法線方向采點，會存在半徑補(bǔ)償余弦誤差;但若按照測點的法線方向采點，就會產(chǎn)生實際測點位置出現(xiàn)偏差;

　　而光學(xué)測頭是直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償環(huán)節(jié)。

　　三、光線的可觸及性不同

　　測球的各個部位都可以通過觸發(fā)式來采點，而光學(xué)傳播是沿直線的，線無法“轉(zhuǎn)彎”，因此，徑深比很小的孔、L性測針的應(yīng)用場景，觸發(fā)式測頭相較于光學(xué)式測頭更為方便。

　　漢測機(jī)床測頭適用于高精度零件檢測、薄壁零件檢測、模具曲面檢測、大尺寸零件在線檢測、大批量在線測量、渦輪葉片檢測等。

　　觸發(fā)式測頭和光學(xué)測頭哪個好?從以上三方面的對比中，光學(xué)測頭的優(yōu)勢似乎更明顯，但并非意味著光學(xué)測頭可以完全取代觸發(fā)式測頭。兩者可以說是互補(bǔ)，面對市面上多類型產(chǎn)品，如何選擇?最終還是取決于測量需求。