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機(jī)床測頭選擇—測頭選型技巧匯總
一、測頭的分類
探頭是測量機(jī)接觸被測零件的信號開關(guān)。它是坐標(biāo)測量機(jī)的關(guān)鍵部件。探針的精度決定了測量機(jī)的重復(fù)性。另外,不同部位需要選擇不同的功能探頭進(jìn)行測量。
探頭可分為接觸式和非接觸式(激光等)。目前主要采用接觸式測量和非接觸式測量,并可分為開關(guān)式(觸發(fā)式或動態(tài)傳輸式)和掃描式(比例式或靜態(tài)傳輸式)前兩類開關(guān)的測試本質(zhì)是以零開關(guān)到為例,它相當(dāng)于三對在電路中的觸點(diǎn)串聯(lián)時(shí),當(dāng)測量頭產(chǎn)生任意方向的位移時(shí),無論從哪一個(gè)觸點(diǎn),電路都可以斷開傳輸計(jì)數(shù)。該開關(guān)結(jié)構(gòu)簡單,壽命長(106~107),測量重復(fù)性好(0.35~0.28m),成本低,測量速度快。
掃描探頭在X、Y和Z方向基本上等同于差動電感測微計(jì)。在X、Y和Z方向上的運(yùn)動由三個(gè)方向上的平行彈簧支撐,并在沒有間隙的情況下旋轉(zhuǎn)。探頭的偏移量由線性電感測量。掃描探針主要用于測量復(fù)雜的曲線和曲面。
非接觸測頭主要分為激光掃描測頭和視頻測頭兩種。
激光掃描測頭主要用于實(shí)現(xiàn)較軟材料或一些特征表面進(jìn)行非接觸測量。測頭在距離檢測工件一定距離(比如50mm),在其聚焦點(diǎn)!5mm范圍內(nèi)進(jìn)行測量,采點(diǎn)速率在200點(diǎn)/秒以上。通過對大量采集數(shù)據(jù)的平均處理功能而獲得較高的精度。視頻測頭進(jìn)一步提高了測量機(jī)的應(yīng)用,使得許多過去采用非接觸測量無法完成的任務(wù)得以完成。一些諸如印刷線路板、觸發(fā)器、墊片或直徑小于0. 1mm的孔可采用視頻測頭進(jìn)行測量。操作者可將檢測工件表面放大50倍以上,采用標(biāo)準(zhǔn)的或可變換的鏡頭實(shí)現(xiàn)對細(xì)小工件的測量。
二、如何選用觸發(fā)和掃描測頭的建議
1.什么時(shí)侯用觸發(fā)式測頭?
1.1零件所被關(guān)注的是尺寸(如小的螺紋底孔).間距或位置,而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差(如定位銷孔) ;
1.2或你確信你所用的加工設(shè)備有能加工出形狀足夠好的零件,而注意力主要放在尺寸和位置精度時(shí),接觸式觸發(fā)測量是合適的,特別是由于對離散點(diǎn)的測量;
1.3觸發(fā)式測頭比掃描測頭快,觸發(fā)測頭體積較小當(dāng)測量空間狹窄時(shí)測頭易于接近零件;
1.4一般來講觸發(fā)式測頭使用及維修成本較低;在機(jī)械工業(yè)中有大量的幾何量測量,所關(guān)注的僅是零件的尺寸及位置,所以目前市場上的大部分測量機(jī),特別是中等精度測量機(jī),仍然使用接觸式觸發(fā)測頭。
2.什么時(shí)候用掃描測頭
應(yīng)用于有形狀要求的零件和型材的測量:掃描測量的主要優(yōu)點(diǎn)是數(shù)據(jù)采集速度快。這些數(shù)據(jù)不僅可以確定零件的尺寸和位置,而且可以準(zhǔn)確描述多點(diǎn)的形狀和輪廓,特別適用于對形狀和輪廓要求嚴(yán)格的零件。該零件的形狀直接影響性能(如葉片、橢圓活塞等);當(dāng)你不確定你所使用的加工設(shè)備能不能生產(chǎn)出足夠好的形狀的零件,形狀誤差成為主要問題時(shí),也適用
高精度測量:掃描探頭是測量離散點(diǎn)的均勻力或恒力測點(diǎn),測點(diǎn)精度更高:
由于掃描探頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法向量,對于需要嚴(yán)格定位和定向測量的場合,掃描探頭在離散點(diǎn)的測量方面也具有優(yōu)勢:
1、在可以應(yīng)用接觸式測頭的情況下,慎選非接觸式測頭;
2、在只測尺寸、 位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測頭;
3、考慮成本又能滿 足要求的情況下,盡量選接觸式觸發(fā)測頭:
4、對形狀及輪廓精度 要求較高的情況下選用掃描測頭;
5、掃描測頭應(yīng)當(dāng)可以對離散點(diǎn)進(jìn)行測量;
6、考慮掃描測頭 與觸發(fā)測頭的互換性(一般用通用測座來達(dá)到);
7、易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測量,可以考慮采用非接觸式測頭;
8、要考慮軟件、附加硬件(如測頭控制器、電纜)的配套。
3.掃描測頭的優(yōu)勢及劣勢
優(yōu)勢:
1、適于形狀及輪廓測量: .
2、采點(diǎn)率高: .
3、高密度采點(diǎn)保證了良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性(GR&R):
4、更高級的數(shù)據(jù)處理能力:
劣勢: .
1、比觸發(fā)測頭復(fù)雜:
2、對離散點(diǎn)的測量較觸發(fā)測頭為慢:
3、高速掃描時(shí)由于加速度而引起的動態(tài)誤差很大,不可忽略,必須加以補(bǔ)償;
4、測尖的磨損必須注意。
4.觸發(fā)式測頭的優(yōu)勢及劣勢:
優(yōu)勢:
1、適于空間棱柱形物體及己知表面的測量:
2、通用性強(qiáng),
3、有多種不同類型的觸發(fā)測頭及附件供采用:
4、采購及運(yùn)行成本低;
5、應(yīng)用簡單
6、適用于尺寸測量及在線應(yīng)用:
7、堅(jiān)固耐用
8、體積小,易于在窄小空間應(yīng)用
9、由于測點(diǎn)時(shí)測量機(jī)處于勻速直線低速運(yùn)行狀態(tài),測量機(jī)的動態(tài)性能對測量精度影響較小:
劣勢:測量取點(diǎn)率低。
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