觸發(fā)測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)

優(yōu)    勢(shì)：

1：適于空間棱柱形物體及已知表面的測(cè)量；

2：通用性強(qiáng)，

3：有多種不同類型的觸發(fā)測(cè)頭及附件供采用；

4：采購(gòu)及運(yùn)行成本低；

5：應(yīng)用簡(jiǎn)單；

6：適用于尺寸測(cè)量及在線應(yīng)用；

7：堅(jiān)固耐用；

8：體積小，易于在窄小空間應(yīng)用；

9：由于測(cè)點(diǎn)時(shí)測(cè)量機(jī)處于勻速直線低速運(yùn)行狀態(tài)，測(cè)量機(jī)的動(dòng)態(tài)性能對(duì)測(cè)量精度影響較?。?/p>

劣    勢(shì)：測(cè)量取點(diǎn)率低。

掃描測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)及劣勢(shì)：

優(yōu)    勢(shì)：

1：適于形狀及輪廓測(cè)量；

2：采點(diǎn)率高；

3：高密度采點(diǎn)保證了良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性；

4：更高級(jí)的數(shù)據(jù)處理能力；

5 : 高精度測(cè)量：掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn)，其測(cè)點(diǎn)精度可以更高；由于掃描測(cè)頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢，對(duì)于要求嚴(yán)格定位、定向測(cè)量的場(chǎng)合，掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也具有優(yōu)勢(shì)；

6 : 對(duì)于未知曲面的掃描，亦即稱為數(shù)字化的場(chǎng)合下，掃描測(cè)頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)：因?yàn)閿?shù)字化工作方式時(shí)，需要大量的點(diǎn)，觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢；由于是未知曲面，測(cè)量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣，即在“探索方式”下工作：測(cè)量機(jī)根據(jù)已運(yùn)動(dòng)的軌跡來計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡、計(jì)算采點(diǎn)密度等。

劣    勢(shì)：

1：比觸發(fā)測(cè)頭復(fù)雜；

2：對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量較觸發(fā)測(cè)頭為慢；

3：高速掃描時(shí)由于加速度而引起的動(dòng)態(tài)誤差很大，不可忽略，必須加以補(bǔ)償；

4：測(cè)尖的磨損必須注意。

選擇測(cè)頭

的幾點(diǎn)考慮

1：在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下，慎選非接觸式測(cè)頭；

2：在只測(cè)尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；

3：考慮成本又能滿足要求的情況下，盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭；

4：對(duì)形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測(cè)頭；

5，掃描測(cè)頭應(yīng)當(dāng)可以對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量；

6：考慮掃描測(cè)頭與觸發(fā)測(cè)頭的互換性（一般用通用測(cè)座來達(dá)到）；

7：易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮采用       非接觸式測(cè)頭；

8：要考慮軟件、附加硬件（如測(cè)頭控制器、電纜）的配套。