傳傳統(tǒng)的觸摸式三坐標(biāo)丈量機(jī)自1956年面世以來(lái)，現(xiàn)已經(jīng)過(guò)了50多年的發(fā)展?，F(xiàn)在現(xiàn)已廣泛使用于生產(chǎn)車間及科研部門(mén)當(dāng)中。隨著工業(yè)技能的不斷進(jìn)步，對(duì)丈量設(shè)備的各方面要求也不斷進(jìn)步，三坐標(biāo)丈量機(jī)在此過(guò)程中也閱歷了無(wú)數(shù)次的技能創(chuàng)新以習(xí)慣更高的丈量要求。盡管如此，當(dāng)今三坐標(biāo)丈量機(jī)依然在某些方面遇到了一定的技能瓶頸。這些瓶頸的發(fā)生不能簡(jiǎn)略地歸結(jié)于技能創(chuàng)新的不足，其主因在于觸摸式三坐標(biāo)丈量機(jī)的硬件結(jié)構(gòu)和丈量原理上的約束。

傳傳統(tǒng)三坐標(biāo)丈量機(jī)裝備最多的是觸發(fā)式測(cè)頭，用觸發(fā)式測(cè)頭丈量物體時(shí)，測(cè)針以一定速度觸摸物體外表，然后使測(cè)針的方位發(fā)生偏離，發(fā)生的電信號(hào)觸發(fā)測(cè)頭記載一個(gè)物體外表測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)。由此帶來(lái)的第一個(gè)問(wèn)題就是丈量速度較慢。其原因在于，首要觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方法對(duì)錯(cuò)接連的，測(cè)頭在一次采點(diǎn)完成后需退回一段距離，讓測(cè)針歸位后才干進(jìn)行第2次采點(diǎn)。而且采點(diǎn)時(shí)觸摸物體外表的速度不能太快，若測(cè)針觸摸物體速度過(guò)快使得測(cè)針的方位偏離過(guò)大，則信號(hào)會(huì)被認(rèn)為是發(fā)生了磕碰而采點(diǎn)失敗。出于這個(gè)原因可以用掃描式測(cè)頭代替觸發(fā)式測(cè)頭，掃描式測(cè)頭采用的是接連采點(diǎn)方法，因而采點(diǎn)速度得到較大進(jìn)步。約束丈量速度的第二個(gè)原因在于，假如被測(cè)物體具有比較復(fù)雜的幾何形狀，那么測(cè)針需要變換若干次指向才干完成整個(gè)丈量，并且測(cè)針的每個(gè)指向需進(jìn)行標(biāo)定。假如要克服這一不足，然后進(jìn)一步進(jìn)步丈量速度的話，需要給三坐標(biāo)丈量機(jī)裝備高端的多軸旋轉(zhuǎn)掃描測(cè)頭，該項(xiàng)新技能可以以接連方法高速掃描物體進(jìn)行采點(diǎn)。