在數(shù)控機床中，觸發(fā)式測頭和掃描式測頭是兩種常見的在機測量技術，漢測測量提醒您，它們各自具有不同的特點和適用場景：

觸發(fā)式測頭（TouchTriggerProbes）

觸發(fā)式測頭是通過觸碰工件表面來進行位置測量的。當測頭的觸感針觸碰到工件時，針尖偏轉，從而觸發(fā)一個開關信號，該信號被發(fā)送到數(shù)控系統(tǒng)，用來計算被測點的坐標位置。

優(yōu)點：

?簡單且易于使用。

?對于單個測量點非常快速和準確。

?適用于工件設置、特征測量以及檢測工件的在位情況。

缺點：

?僅在測頭與工件接觸點提供數(shù)據(jù)。

?不適合測量復雜形狀或連續(xù)曲線。

?測量速度較慢，因為每個點都需要單獨接觸。

掃描式測頭（ScanningProbes）

掃描式測頭可以在與工件表面接觸的同時沿著工件表面移動，持續(xù)收集數(shù)據(jù)點。這允許它們捕獲工件的連續(xù)輪廓數(shù)據(jù)，從而用于分析工件的實際幾何形狀。

優(yōu)點：

?能夠連續(xù)測量，獲取大量數(shù)據(jù)點，適合復雜形狀和曲面。

?可以快速獲取工件的全面數(shù)據(jù)，適合做詳細的形狀和尺寸檢驗。

?收集到的數(shù)據(jù)可以用于詳細分析和逆向工程。

缺點：

?相對于觸發(fā)式測頭，復雜度和成本更高。

?需要更復雜的數(shù)據(jù)處理和分析軟件。

?測量過程中對機床和測頭的穩(wěn)定性要求更高。

觸發(fā)式測頭和掃描式測頭兩種類型的測頭都需要定期的校準，以確保測量的準確性。在選擇適合的測頭時，需要考慮到生產環(huán)境、工件的復雜性、所需的測量速度和精度，以及成本因素。觸發(fā)式測頭適合簡單快速的點測量，而掃描式測頭適合對形狀復雜、需要高精度輪廓數(shù)據(jù)的工件進行測量。